一、主要技术指标：
1.最大额定输出功率：9 KW
2. X射线光源：Cu（转靶）9 KW，焦点尺寸：0.4×0.8 mm2细焦斑
3.样品水平型高精度测角仪：测角仪半径≥300 mm，最小步进为0.0001°，角度范围：-110°～+168°；
国际标准样品现场检测，全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.008°；
最低起测角度≥0.01度；
背景：低于0.0001 cps；
测角仪调整：智能虚拟测角仪计算机控制全自动调整，硬件自动识别，自动纠错，保证仪器最佳的测量状态和精度。
4.原位电池分析附件
可以在电池材料的原位充放电过程中实现XRD数据收集，进而进行电池材料的相转变研究及原位相变化结构精修。测试系统包含原位电池模具和适用于衍射仪的高度可调的模具安装支架。
原位电池技术参数：
样品尺寸：直径≥20mm
原位池材质：不锈钢
X射线窗口直径：≥16毫米
XRD衍射数据测量范围：≤5°
二、主要功能特色：
该设备通过与各种装置和光学元件单元结合使用，可以对从粉末到薄膜的广泛材料进行多种测试和评价。
仪器搭载了根据测试目的指导X射线衍射测试步骤的“Package Activity”，将光学系统调节、样品位置调节、测试条件设定等一连串步骤编成套装，操作方便、快捷。SmartLab向导能够自动调节光学元件，为分析样品调整样品高度和角度到最佳位置；SmartLab Studio II软件、CBO技术和自动调整功能相结合，使得粉末衍射简单化，其具体应用包括：物相分析，晶粒尺寸，定量分析，晶格参数测量，结晶度以及Rietveld精修。
多维半导体直读检测器支持0D和1D测量模式切换，能量分辨率出色，比常规探测器强度高600倍以上，灵敏度高，测量速度快，能够准确分析低含量样品和微量成分。
