联系人：王伟伟
放置地点：化学新楼一楼小会议室
规格型号：X
所属机构：结构成分与物性测量平台
资产编号：1509321S
英文名称：IN-SITU X-RAY DIFFRACTOMETER
联系电话：15098726135
仪器品牌：PANalytical、Anton Paar
启用时间：2015年12月
开放共享：普通样品校内30元/样品，校外60元/样品
一、主要规格及技术指标：
1.配备有荷兰帕纳科X'Pert3 Powder衍射仪及奥地利安东帕XRK-900原位池；
2.X射线发生器：40kV、40mA，光管为Cu靶，测试最高温度：900℃。
二、应用方向和特色：
未知物相鉴定、混合物定量、残余应力和晶粒择优取向的微观结构属性测定。在常温或非环境温度条件下追踪材料结构变化。
