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场发射透射电子显微镜

联系人:孔丽

放置地点:中心校区晶体材料研究所133

规格型号:JEM-2100F

所属机构:晶体材料研究所

一、主要规格和指标

点分辨率:0.23nm;

线分辨率:0.1nm;

STEM分辨率:0.2nm。

二、 主要功能

纳米材料的形貌观察与分析,成分和含量分析。

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